SRM 1761a 低合金鋼標(biāo)準(zhǔn)品(美國(guó)NIST) 旨在用于評(píng)估化學(xué)和儀器分析方法以及校準(zhǔn)儀器分析方法。 SRM 1761a 的每個(gè)單元由一個(gè)直徑約 34 毫米、厚 19 毫米的圓盤組成。

表 1 報(bào)告了 SRM 1761a 的 14 種成分的認(rèn)證值。表 2 報(bào)告了七種成分的參考值。表 3 報(bào)告了 Fe 的信息值。對(duì)于所有元素，值都以質(zhì)量分?jǐn)?shù)報(bào)告 [1]。賦值類別基于 NIST 用于化學(xué)參考材料 [2] 的術(shù)語(yǔ)和模式的定義。

認(rèn)證值：

NIST 認(rèn)證值是 NIST 對(duì)其準(zhǔn)確性有最高置信度的真實(shí)值的當(dāng)前最佳估計(jì)值，因?yàn)樗幸阎蚩梢傻钠顏?lái)源都已由 NIST 調(diào)查或解釋。對(duì)于此 SRM，認(rèn)證值基于 NIST 和合作實(shí)驗(yàn)室使用儀器和經(jīng)典測(cè)試方法進(jìn)行的分析結(jié)果。

參考值：

參考值是未經(jīng)認(rèn)證的值，是對(duì)真實(shí)值的當(dāng)前最佳估計(jì)。但是，這些值不符合 NIST 認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)，并且提供了相關(guān)的不確定性，可能不包括所有不確定性來(lái)源。

SRM 1761a 低合金鋼標(biāo)準(zhǔn)品(美國(guó)NIST) 的值分配基于此 SRM 與原始 SRM 1761 的完整、高精度比較。SRM 1761a 的材料被證明與所有元素的原始材料沒(méi)有區(qū)別，除了 C、N 和 V . SRM 1761a 的賦值被認(rèn)為可以直接追溯到用于 SRM 1761 賦值的主要參考物質(zhì)和校準(zhǔn)。C 和 N 的賦值是使用基于 SRM 1761 的校準(zhǔn)通過(guò)燃燒和紅外檢測(cè)獲得的。V 的賦值是通過(guò) X 射線熒光光譜法獲得的基于低合金鋼 SRM 1761 至 1768 的校準(zhǔn)。在此證書中列出了賦值中采用的測(cè)試方法。

每個(gè)規(guī)定值列出的不確定度是一個(gè)擴(kuò)展的不確定度，接近 95% 的置信水平 [3]，根據(jù) ISO 和 NIST 指南 [4] 中的方法計(jì)算。 SRM 1761 和 SRM 1761a 之間比較的不確定性已在報(bào)告的不確定性估計(jì)中得到考慮。

認(rèn)證到期：

本 SRM 的認(rèn)證在規(guī)定的不確定性范圍內(nèi)無(wú)限期有效，前提是根據(jù)本證書中給出的說(shuō)明處理和存儲(chǔ) SRM（參見(jiàn)“使用說(shuō)明"）。如果 SRM 損壞、污染或以其他方式修改，則認(rèn)證無(wú)效。

使用說(shuō)明

測(cè)試表面是與標(biāo)記表面相對(duì)的一側(cè)，其中包括 SRM 編號(hào)。該裝置的整個(gè)厚度都經(jīng)過(guò)認(rèn)證。但是，警告用戶在使用 X 射線熒光光譜法時(shí)不要測(cè)量厚度小于 2 毫米的圓盤。每個(gè)封裝的磁盤都是通過(guò)使用銑削完成測(cè)試表面來(lái)準(zhǔn)備的機(jī)器。用戶必須為每種分析技術(shù)確定正確的表面處理程序。提醒用戶在重修磁盤或進(jìn)行額外拋光時(shí)要小心，因?yàn)檫@些過(guò)程可能會(huì)污染表面。 NIST 發(fā)現(xiàn)在表面磨削過(guò)程中必須經(jīng)常更換砂紙。用過(guò)的紙失去了去除鋼材表面污染物的能力。不使用時(shí)，應(yīng)將材料存放在其原始容器中，置于陰涼干燥的地方。使用實(shí)心圓盤和由圓盤制備的芯片測(cè)試該材料。認(rèn)證值被認(rèn)為代表了材料的總體平均成分。